日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

產(chǎn)品型號：

所屬分類：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-09

簡要描述：日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。

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詳細(xì)說明：

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
　通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計的精度，從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
　另一方面，在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大，運(yùn)輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進(jìn)行測量。

軟X射線測厚儀的一般功能

無需任命放射線處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人，也無需設(shè)置受控區(qū)域
（需要通知nao工標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室）
路徑錯誤可以忽略
高元素依賴性

與傳統(tǒng)的軟X射線測厚儀相比，我們的軟X射線測厚儀的功能

檢測單元和X射線源單元結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕，甚至可以安裝在狹窄的地方。
測量范圍廣（材料/厚度）

采用

銅箔，鋁箔，不銹鋼箔
電池電極
陶瓷（薄板，薄餅）
玻璃纖維布

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

X射線測厚儀SX-1100

物品	規(guī)格
X射線測厚儀SX-1100的規(guī)格
姓名	X射線測厚儀SX-1100
測量方法	X射線透射法
檢測方式	閃爍檢測器方法
被測物	根據(jù)測量目標(biāo)（如薄膜和箔紙）的z佳設(shè)計
測量間距	標(biāo)準(zhǔn)2mm（可提供更細(xì)的間距）
掃描寬度	標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm（也可提供其他寬度）
掃描速度	15-300毫米/秒（標(biāo)準(zhǔn)）
框架結(jié)構(gòu)	O型等各種鏡框
光斑尺寸	約φ7.5mm（標(biāo)準(zhǔn)）（工作時）
X射線源	70 x 83毫米x 250毫米（標(biāo)準(zhǔn)）
檢測單元	70 x 83毫米x 220毫米（標(biāo)準(zhǔn)）
電源	100V單相1kVA

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